- 制造厂商:TI
- 类别封装:逻辑 - 专用逻辑,产品封装:64-LQFP
- 技术参数:IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP
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SN74ABTH182652APM 技术参数详情:
- 制造商产品型号:SN74ABTH182652APM
- 制造商:TI公司(德州仪器,Texas Instruments)
- 描述:IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP
- 产品系列:逻辑 - 专用逻辑
- 包装:托盘
- 系列:74ABTH
- 零件状态:有源
- 逻辑类型:扫描测试设备,带收发器和寄存器
- 供电电压:4.5V ~ 5.5V
- 位数:18
- 工作温度:-40°C ~ 85°C
- 安装类型:表面贴装型
- 产品封装:64-LQFP
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SN54AHC126:具有三态输出的军用 4 通道、2V 至 5.5V 缓冲器
CSD19536KTT:采用 D2PAK 封装的单路、2.4mΩ、100V、N 沟道 NexFET 功率 MOSFET
CDCE937-Q1:具有 2.5V 或 3.3V LVCMOS 输出的汽车类可编程 3-PLL VCXO 时钟合成器
DS90CF366:+3.3V LVDS 接收器 18 位平板显示器 (FPD) 链路 - 85MHz
SN54HC373-SP:具有三态输出的八路 D 类透明锁存器
MSP430F5341:具有 96KB 闪存、8KB SRAM、12 位 ADC、比较器、DMA、UART/SPI/I2C 和硬件乘法器的 25MHz MCU
SN74ALVC7806:256 x 18 3.3V 异步 FIFO 存储器
LMV341:Single, 5.5-V, 1-MHz, high output current (75-mA) operational amplifier
UCC256303:支持低待机功耗的 LLC 谐振控制器
SMJ320C40KGDC:军用级 C40 浮点 DSP - 已知合格芯片
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