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- 制造厂商：TI
- 类别封装：逻辑 - 专用逻辑，产品封装：24-DIP（0.300，7.62mm）
- 技术参数：IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
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SN74BCT8374ANT 技术参数详情：
- 制造商产品型号：SN74BCT8374ANT
- 制造商：TI公司（德州仪器，Texas Instruments）
- 描述：IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
- 产品系列：逻辑 - 专用逻辑
- 包装：管件
- 系列：74BCT
- 零件状态：停产
- 逻辑类型：扫描测试设备，带 D 型边沿触发式触发器
- 供电电压：4.5V ~ 5.5V
- 位数：8
- 工作温度：0°C ~ 70°C
- 安装类型：通孔
- 产品封装：24-DIP（0.300，7.62mm）
- SN74BCT8374ANT优势代理货源，国内领先的TI芯片采购服务平台。
UCC5606：具有反向关断状态的用于 SCSI 至 Ultra SCSI 的超低电容 9 线路 3V 至 5V SE 端接器
TPS40190：4.5V 至 15V、20A 同步降压控制器
LM10QML：Military-grade, single, 45-V, 50-kHz operational amplifier with QML certification
SN75DP118：DisplayPort 1:1 中继器
BQ29312：二、三、四节锂离子或锂聚合物电池保护 AFE
TPL5010-Q1：具有看门狗功能的汽车 AEC-Q100 毫微功耗系统计时器
LMG3411R050：具有集成驱动器和逐周期过流保护功能的 600V 50m? GaN
SN74LVC32A：4 通道、2 输入、1.65V 至 3.6V 或门
SN74ALS646A：具有三态输出的八路总线寄存收发器
ONET1151L：11.3Gbps 低功耗激光二极管驱动器
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